一、開關電源始終無輸出(保險管正常)的故障檢修技巧

　　1、開關電源始終無電壓輸出的原因

　　這種情況是由于開關電源未產生振蕩所致，證明的方法是：測開關電源整流濾波電容關機后的電壓，若為300V之后緩慢下降，則說明開關電源確未產生振蕩。

　　開關電源未產生振蕩的原因有：

　　(1)開關管集電極未得到足夠的工作電壓。

　　(2)開關管基極未得到啟動電壓。

　　(3)開關管正反饋電路元件失效。

　　2、檢修方法與步驟

　　(1)測開關管集電極電壓為0或低于市電1.4倍，檢查交流220V輸入電路及整流濾波電路，若集電極電壓正常，則檢查開關管b極電壓。

　　(2)測開關管b極電壓或者在關機瞬間，用指針萬用表R x 1歐擋，黑筆接b極，紅筆接整流濾波電容負極(熱地)，聽電源有啟動聲音，說明電源振蕩電路正常，僅缺乏啟動電壓，是啟動電阻開路或銅皮斷。若無啟動聲，在測be結后，迅速將表轉到電壓檔，測c極電壓是dpurlhx

　　否快速泄放。若是，說明開關管及其放電回路均正常，正反饋電路存在故障，包括反饋電阻、電容、續(xù)流二極管、正反饋繞組及其開關管故障。若c極電壓仍不泄放，說明開關管及其回路有開路故障或b極有短路接地故障。

　　二、開關電源瞬間有電壓輸出的故障檢修技巧

　　1、瞬間有電壓輸出故障原因

　　開關電源在加電的初始產生了振蕩，但后來由于過壓過流保護引起停振，或開關機接口電路加電初為開機狀態(tài)，但隨著CPU清零的結束而轉入待機狀態(tài)。

　　其原因有：

　　(1)開關電源因故造成輸出電壓過高而引起保護停振。

　　(2)負載過流而引起過流保護動作。

　　(3)保護電路本身誤動作。

　　(4)遙控系統(tǒng)因故障而執(zhí)行待機指令。

　　其中2、3、4項適用于帶有副電源的機器。

　　2、故障判斷的方法與檢修步驟

　　(1)假負載法：

　　脫開行負載，在B+輸出端接上假負載，監(jiān)測B+電壓(應先將電壓表接到位，開機后即關機)。如果高于正常值十幾伏以上，可判斷故障是由開關電源輸出過壓，并擊穿行輸出管所致，或電源本身的保護電路動作關斷電源。應對控制開關電源輸出電壓的脈寬調制電路和振蕩定時電容進行檢查。

　　若開關電源B+正常，則變換負載或改變市電壓觀察B+是否穩(wěn)定輸出，對于直接取樣電源可空載，以便更好地判斷開關電源的穩(wěn)定性能，若確認其良好，則故障系負載過流或保護電路動作所引起。

　　(1)檢查保護電路：

　　當B+正常時，測B+對地阻值，看是否直流輸出端對地短路。若沒短路，恢復行負載開機可監(jiān)測可控硅G極電位，逐一監(jiān)測各保護檢測支路，直致查出故障點，不要輕易取消保護電路，因斷開保護機器失去應有的保護功能，如果當時開關電源存在輸出電壓過高，燈絲電壓過高過壓等故障，會造成嚴重的后果。

　　若確實找不出故障點，可以斷開過流保護電路。因過流故障充其量損壞故障電路中的供電回路元件，如限流電阻等，不會損壞末端負載。

　　三、開關電源輸出電壓高的故障檢修技巧

　　1、造成開關電源輸出電壓高的原因

　　(1)具有倍壓整流的機型，市電壓正常的情況下錯誤地工作于倍壓整流狀態(tài)。

　　(2)脈寬調整電路出現(xiàn)問題。

　　(3)振蕩定時電容容量下降。

　　2、主負載(行掃描電路)未工作，造成開關電源負載輕引起電壓升高(僅適用于穩(wěn)壓調整環(huán)路間接取樣的電源，即穩(wěn)壓取樣不是直接取自B+輸出)。

　　3、故障判斷的方法與檢修步驟

　　(1)判斷整流濾波電路是否工作在倍壓整流狀態(tài)的方法：測開關管集電極電壓，若比交流供電電壓高出1.4倍以上，可判斷開關電源輸出電壓高系開關管集電極電壓高所致。應對倍壓整流電路進行檢查。對于電網(wǎng)電壓比較正常的地區(qū)，可以拆除倍壓整流濾波電路，降低電源

　　故障率。

　　(2)用替換法判斷振蕩定時電容是否不良。

　　(3)判斷脈寬調制電路故障的方法：

　　●調整交流電壓法：

　　用交流調壓器調整交流輸入電壓，監(jiān)測B+輸出電壓，使其保持在略高于正常值。(因為若取樣正常，這時負反饋穩(wěn)壓環(huán)路當起控)然后測脈寬調整電路中各級三極管的b、e、c極電壓，光耦①、②腳間壓降變化，看其是否與穩(wěn)壓原理相符或變化趨勢一致，測到某一點與穩(wěn)壓原理應得值相反，說明被測點的這一級有故障，不能正確傳送穩(wěn)壓信息，使穩(wěn)壓失敗，應逐一檢查相關元件。

　　●分割法(適用于直接取樣電源)。

　　以穩(wěn)壓環(huán)路中的光耦為分水嶺，對電路實行分割，確定故障范圍。短路光耦③、④端，觀察B+變化。

　　(1)B+嚴重下降或停止輸出，說明熱底板部分正常。故障點在B+取樣電路及光耦。